實(shí)驗(yàn)?zāi)康?/span>

驗(yàn)證文天精策冷臺(tái)與國儀量子SEM的兼容性，確保在低溫環(huán)境下（如快速冷凍蛋糕油樣品）能夠保持樣品微觀結(jié)構(gòu)的完整性，并通過SEM成像清晰觀測其形貌特征。同時(shí)，評估冷熱臺(tái)在變溫測試中的性能（如溫控精度、穩(wěn)定性等），為后續(xù)材料相變微觀表征提供可靠的原位測試條件。

實(shí)驗(yàn)設(shè)備

文天精策冷臺(tái)、國儀量子SEM

實(shí)驗(yàn)方法

將蛋糕油樣品放入冷臺(tái)快速冷凍，以保持其微觀結(jié)構(gòu)完整性；然后啟動(dòng)真空系統(tǒng)，先抽至高真空（<1Pa）去除殘留氣體和水分，再調(diào)節(jié)至30Pa低真空模式；待真空度和溫度穩(wěn)定后，即可開始SEM觀測。

實(shí)驗(yàn)結(jié)果

兼容性驗(yàn)證成功：文天精策冷臺(tái)與國儀量子SEM系統(tǒng)兼容，冷臺(tái)在SEM真空環(huán)境下運(yùn)行穩(wěn)定，未干擾電子光學(xué)系統(tǒng)或成像質(zhì)量

成像效果：低真空模式（30Pa）下SEM圖像對比度高，滿足含水/油脂樣品的觀測需求。

結(jié)論：該冷熱臺(tái)適配SEM的方案適用于熱敏感材料（如食品、生物樣品）的原位低溫表征，為后續(xù)相變研究提供了可靠技術(shù)支撐。

設(shè)備優(yōu)勢

SEM原位冷熱臺(tái)是一種在掃描電子顯微鏡（SEM）標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)上（無需改造電鏡內(nèi)部），提供樣品原位變溫測試的電鏡附件。通過外接法蘭裝置實(shí)現(xiàn)對冷熱臺(tái)上的樣品進(jìn)行控溫，穩(wěn)定后溫控精度最高可達(dá)±0.1℃ 可實(shí)現(xiàn)樣品變溫測試的溫度范圍：-190~50℃ / -190~200℃，滿足原位高低溫材料相變微觀表征。可根據(jù)客戶需求定制

選購參數(shù)